IEEE Transactions on Device and Materials Reliability
ISSNs: 1530-4388
IEEE, New York [u. a.]
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 4,8 SJR 0,436 SNIP 1,148
Fachzeitschrift: Zeitschrift
| Titel |
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|---|---|
| ISSNs | 1530-4388 |
| Verlag | IEEE, New York [u. a.] |
| ZDB-ID | 2057871-4 |
| ZDB-ID | 2061445-7 |