Comparative Study of Reliability of Ferroelectric and Anti-Ferroelectric Memories

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	154-162
Seitenumfang	9
Fachzeitschrift	IEEE transactions on device and materials reliability
Jahrgang	18
Ausgabenummer	2
Publikationsstatus	Veröffentlicht - Juni 2018
Peer-Review-Status	Ja

Scopus	85045732687