Arbeitsgruppe Cool Silicon
Organisation: Forschungs-/Arbeitsgruppe
Ehemalige Einrichtung
Aktiv bis. 31 März 2024.
Verknüpfte Inhalte und Forschende (öffentliche Profile)
- Veröffentlichungen
- Zeitschriften
Assessment and Level Modelling in Fundamentals of Electrical Engineering
Klein, A., Müller, J., Link, N. & Schaffer, R., 5 Aug. 2024, in: International Journal of Engineering Pedagogy: iJEP. 14, 6, S. 37-53 17 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
High Gain Graphene Based Hot Electron Transistor with Record High Saturated Output Current Density
Strobel, C., Chavarin, C. A., Knaut, M., Völkel, S., Albert, M., Hiess, A. & Max, B. & 3 weitere, Wenger, C., Kirchner, R. & Mikolajick, T., Feb. 2024, in: Advanced electronic materials. 10, 2, 7 S., 2300624.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Reducing the tunneling barrier thickness of bilayer ferroelectric tunnel junctions with metallic electrodes
Lancaster, S., Segatto, M., Silva, C., Max, B., Mikolajick, T., Esseni, D. & Driussi, F. & 1 weitere, Slesazeck, S., 2023, 2023 Device Research Conference, DRC 2023. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), (Device Research Conference - Conference Digest, DRC, Band 2023-June).Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung
Self-Aligned on-Chip Spherical Dielectric Resonators and Antennas for SiGe MMIC
Sterzl, G., Zhu, Y., Hesselbarth, J., Carta, C., Lisker, M. & Ellinger, F., 2 Dez. 2022, 2022 Asia-Pacific Microwave Conference, APMC 2022 - Proceedings. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), S. 686-688 3 S. 9999786Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung
Ferroelectric-based synapses and neurons for neuromorphic computing
Covi, E., Mulaosmanovic, H., Max, B., Slesazeck, S. & Mikolajick, T., 1 März 2022, in: Neuromorphic computing and engineering. 2, 1, 14 S., 012002.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Electronics letters : the latest research in electronic engineering and technology
ISSNs: 0013-5194
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1350-911X
Wiley, Hoboken, Großbritannien/Vereinigtes Königreich
Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 1,7 SJR 0,269 SNIP 0,436
In DOAJ indiziert
Fachzeitschrift: Zeitschrift
International Journal of Engineering Pedagogy: iJEP
ISSNs: 2192-4880
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2192-4880
International Federation of Engineering Education Societies (IFEES)
Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 5,4 SJR 0,484 SNIP 1,091
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Neuromorphic computing and engineering
ISSNs: 2634-4386
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2634-4386
Institute of Physics
Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 9,2 SJR 1,548 SNIP 1,505
In DOAJ indiziert
Fachzeitschrift: Zeitschrift
ACS Applied Electronic Materials
ISSNs: 2637-6113
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2637-6113
American Chemical Society
Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 7,4 SJR 1,045 SNIP 1,007
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Frequenz
ISSNs: 0016-1136
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2191-6349
De Gruyter, Berlin [u. a.]
Scopus-Bewertung (2024): CiteScore 2,5 SJR 0,252 SNIP 0,467
Fachzeitschrift: Zeitschrift