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ACS Applied Electronic Materials

ISSNs: 2637-6113

Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2637-6113

American Chemical Society

Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 7,2 SJR 1,058 SNIP 0,929

Fachzeitschrift: Zeitschrift

Titel	ACS Applied Electronic Materials ACS applied electronic materials
ISSNs	2637-6113
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch)	2637-6113
Verlag	American Chemical Society
ZDB-ID	2949097-2

Schlagworte

ASJC-Scopus Sachgebiete

Elektronische, optische und magnetische Materialien
Werkstoffchemie
Elektrochemie

Bibliotheksschlagworte

540 Chemie und zugeordnete Wissenschaften

Verknüpfte Inhalte

Veröffentlichungen

Influence of the Ozone Dose Time during Atomic Layer Deposition on the Ferroelectric and Pyroelectric Properties of 45 nm-Thick ZrO₂ Films

Xu, B., Collins, L., Holsgrove, K. M., Mikolajick, T., Schroeder, U. & Lomenzo, P. D., 25 Apr. 2023, in: ACS applied electronic materials. 5, 4, S. 2288–2295 8 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Sputtered Ferroelectric Hafnium-Zirconium Oxide with High Remanent Polarization after Back-End-of-Line Compatible Annealing

Wang, X., Mikolajick, T. & Grube, M., 27 Dez. 2022, in: ACS applied electronic materials. 4, 12, S. 6142-6148 7 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Fabrication of Highly n-Type-Doped Germanium Nanowires and Ohmic Contacts Using Ion Implantation and Flash Lamp Annealing

Echresh, A., Prucnal, S., Li, Z., Hübner, R., Ganss, F., Steuer, O., Bärwolf, F., & 6 weitereJazavandi Ghamsari, S., Helm, M., Zhou, S., Erbe, A., Rebohle, L. & Georgiev, Y. M., 22 Nov. 2022, in: ACS applied electronic materials. 4, 11, S. 5256-5266 11 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Ferromagnetic Cobalt Disulfide: A CVD Pathway Toward High-Quality and Phase-Pure Thin Films

Wree, J. L., Glauber, J. P., Zanders, D., Rogalla, D., Becher, M., Griffiths, M. B. E., Ostendorf, A., & 3 weitereBarry, S. T., Ney, A. & Devi, A., 23 Aug. 2022, in: ACS applied electronic materials. 4, 8, S. 3772-3779 8 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Influence of Si-Doping on 45 nm Thick Ferroelectric ZrO2 Films

Xu, B., Lomenzo, P. D., Kersch, A., Mikolajick, T. & Schroeder, U., 26 Juli 2022, in: ACS applied electronic materials. 4, 7, S. 3648-3654 7 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

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