Trentzsch, M., Flachowsky, S., Richter, R., Paul, J., Reimer, B., Utess, D. & Jansen, S.
& 11 weitere,
Mulaosmanovic, H., Muller, S., Slesazeck, S., Ocker, J., Noack, M., Muller, J., Polakowski, P., Schreiter, J., Beyer, S., Mikolajick, T. & Rice, B.,
31 Jan. 2017,
2016 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2016. Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE),
S. 11.5.1-11.5.4 7838397. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM).
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