Professur für Optoelektronische Bauelemente und Systeme (gB/FG)

Organisation: Professur

Organisationsprofil

Ehemalige:r Inhaber:in der Professur: Prof. Dr.-Ing. Hubert Lakner

Kontakt

TUD Webseite: https://tu-dresden.de/ing/elektrotechnik/ihm/oes

Übergeordnete Einrichtungen

Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik (IHM)

Schlagworte

Forschungsschwerpunkte

Verknüpfte Inhalte und Forschende (öffentliche Profile)

Veröffentlichungen
Zeitschriften

Quasi-statischer MOEMS-Gitterscanner zum spektralen Durchstimmen eines MIR-Quantenkaskadenlasers

Merten, A., Schroedter, R., Dreyhaupt, A., Graßhoff, T., Schwarzenberg, M., Hugger, S., Schilling, C., & 2 weitereGrahmann, J. & Ostendorf, R., März 2019, in: Technisches Messen : tm ; Sensoren, Geräte, Systeme. 86, 3, S. 131-143

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Switching Kinetics in Nanoscale Hafnium Oxide Based Ferroelectric Field-Effect Transistors

Mulaosmanovic, H., Ocker, J., Müller, S., Schroeder, U., Müller, J., Polakowski, P., Flachowsky, S., & 3 weitereBentum, R. V., Mikolajick, T. & Slesazeck, S., 1 Feb. 2017, in: ACS applied materials & interfaces. 9, 4, S. 3792–3798 7 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

A 28nm HKMG super low power embedded NVM technology based on ferroelectric FETs

Trentzsch, M., Flachowsky, S., Richter, R., Paul, J., Reimer, B., Utess, D., Jansen, S., & 11 weitereMulaosmanovic, H., Muller, S., Slesazeck, S., Ocker, J., Noack, M., Muller, J., Polakowski, P., Schreiter, J., Beyer, S., Mikolajick, T. & Rice, B., 31 Jan. 2017, 2016 IEEE International Electron Devices Meeting, IEDM 2016. Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., S. 11.5.1-11.5.4 7838397. (Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM).

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

Novel ferroelectric FET based synapse for neuromorphic systems

Mulaosmanovic, H., Ocker, J., Muller, S., Noack, M., Muller, J., Polakowski, P., Mikolajick, T., & 1 weitereSlesazeck, S., 2017, Digest of Technical Papers - Symposium on VLSI Technology.

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

Correlation between the macroscopic ferroelectric material properties of Si:HfO<inf>2</inf>and the statistics of 28 nm FeFET memory arrays

Mueller, S., Slesazeck, S., Henker, S., Flachowsky, S., Polakowski, P., Paul, J., Smith, E., & 2 weitereMüller, J. & Mikolajick, T., 2016, in: Ferroelectrics. 497, 1, S. 42-51 10 S.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

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