Institut für Halbleiter- und Mikrosystemtechnik (IHM)
Organisation: Institut
Kontakt
- TUD Webseite: https://tu-dresden.de/ing/elektrotechnik/ihm
Verknüpfte Inhalte und Forschende (öffentliche Profile)
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Mikolajick, Thomas
- Professur für Nanoelektronik - Wissenschaftliches Personal
- Center for Advancing Electronics Dresden (cfaed) - Speziell
Person
Perovskite solar cells
Han, J., Park, K., Tan, S., Vaynzof, Y., Xue, J., Diau, E. W. G. & Bawendi, M. G. & 2 weitere, Lee, J. W. & Jeon, I., Dez. 2025, in: Nature Reviews Methods Primers. 5, 1, 3.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Improved 2D charge carrier quantification workflow for scanning spreading resistance microscopy
Adlmaier, T., Doering, S., Binder, B., Simon, D. K., Mikolajick, T. & Eng, L. M., Mai 2025, in: Microelectronics Reliability. 168, 115646.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Low Temperature Atomic Layer Deposition of (00l)-Oriented Elemental Bismuth
Vazquez-Arce, J. L., Amoroso, A., Perez, N., Charvot, J., Naglav-Hansen, D., Zhao, P. & Yang, J. & 10 weitere, Lehmann, S., Wrzesińska-Lashkova, A., Pieck, F., Tonner-Zech, R., Bureš, F., Acquesta, A., Vaynzof, Y., Devi, A., Nielsch, K. & Bahrami, A., 7 Apr. 2025, in: Angewandte Chemie - International Edition. e202422578.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
A deflectable video camera system for laparoscopic surgery based on shape memory alloy actuators
Pietsch, M., Henkel, K., Körbitz, R., Hüttner, R., Uhlig, K., Bruk, S. & Fischer, M. & 3 weitere, Hampe, J., Richter, A. & Brinkmann, F., 2 Apr. 2025, in: Scientific reports. 15, 1, 11354.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
High-Performance Silicon Nanowire Reconfigurable Field Effect Transistors Using Flash Lamp Annealing
Ghosh, S., Khan, M. B., Prucnal, S., Hübner, R., Chava, P., Mauersberger, T. & Mikolajick, T. & 2 weitere, Erbe, A. & Georgiev, Y. M., 25 März 2025, in: ACS applied electronic materials. 7, 6, S. 2284-2297 14 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
ACS Applied Optical Materials
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2771-9855
American Chemical Society, USA/Vereinigte Staaten
Fachzeitschrift: Zeitschrift
International Conference on Metamaterials, Photonic Crystals and Plasmonics
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 2429-1390
META Conference, Frankreich
Fachzeitschrift: Schriftenreihe
Electronics letters : the latest research in electronic engineering and technology
ISSNs: 0013-5194
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1350-911X
Wiley, Hoboken, Großbritannien/Vereinigtes Königreich
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 2,7 SJR 0,323 SNIP 0,462
In DOAJ indiziert
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Micro and Nano Engineering
ISSNs: 2590-0072
Elsevier Science B.V., Niederlande
Scopus-Bewertung (2022): CiteScore 5 SJR 0,498 SNIP 1,006
In DOAJ indiziert
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Microchimica acta : an international journal on micro and trace analysis
ISSNs: 0026-3672
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1436-5073
Springer Verlag Wien, Österreich
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 9,8 SJR 0,848 SNIP 0,778
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Journal of Materials Chemistry C (Fachzeitschrift)
Vaynzof, Y. (Mitherausgeber:in)2020 → …
Aktivität: Begutachtung von Manuskripten und herausgeberische Tätigkeiten › Herausgebertätigkeit
Rice University
Henke, E. M. (Gast)1 Okt. 2018 → 20 Dez. 2018
Aktivität: Aufenthalte an externen Einrichtungen › Forschungsaufenthalt
The University of Auckland
Henke, E. M. (Gast)1 Mai 2015 → 31 Mai 2017
Aktivität: Aufenthalte an externen Einrichtungen › Forschungsaufenthalt
Combined Kossel and EBSD measurement on ceramic, metallic and superconducting materials
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Dozent:in)17 Juni 2012 → 20 Juni 2012
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
Precision crystallographic studies with the Kossel X-ray diffraction
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Redner:in)28 März 2011 → 30 März 2011
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
ERC Consolidator Grant
Vaynzof, Y. (Empfänger:in), 2023
Auszeichnung: Förderung/Stipendium › Forschungsprojekte/Netzwerke
2021 Electron Devices Society George E. Smith Award
Kleimaier, D. (Empfänger:in), Mikolajick, T. (Empfänger:in), Slesazeck, S. (Empfänger:in), Mulaosmanovic, H. (Empfänger:in), Beyer, S. (Empfänger:in), Soss, S. (Empfänger:in) & Dünkel, S. (Empfänger:in), 5 Dez. 2022
Auszeichnung: Preis › Publikations-/Konferenzpreis
Clarivate Highly Cited Researcher 2022
Mikolajick, T. (Empfänger:in), 15 Nov. 2022
Auszeichnung: Sonstige Auszeichnung
Best Paper Award in Electronics
Schroedter, R. (Empfänger:in), Demirkol, A. S. (Empfänger:in), Ascoli, A. (Empfänger:in), Tetzlaff, R. (Empfänger:in), Mgeladze, E. (Empfänger:in), Herzig, M. (Empfänger:in), Slesazeck, S. (Empfänger:in) & Mikolajick, T. (Empfänger:in), 10 Juni 2022
Auszeichnung: Preis › Publikations-/Konferenzpreis
CCDC 2351034: Experimental Crystal Structure Determination
Mitrofanov, A. (Urheber:in), Dreimann, O. (Urheber:in), Zakirova, K. (Urheber:in), Waentig, A. L. (Urheber:in), Wrzesińska-Lashkova, A. (Urheber:in), Kuc, A. (Urheber:in), Ruck, M. (Urheber:in), Vaynzof, Y. (Urheber:in), Feng, X. (Urheber:in) & Voit, B. (Urheber:in), Cambridge Crystallographic Data Centre, 2024
DOI: https://doi.org/10.5517/ccdc.csd.cc2jxftq, http://www.ccdc.cam.ac.uk/services/structure_request?id=doi:10.5517/ccdc.csd.cc2jxftq&sid=DataCite
Forschungsdaten: Datensatz › Messreihen
CCDC 2351035: Experimental Crystal Structure Determination
Mitrofanov, A. (Urheber:in), Dreimann, O. (Urheber:in), Zakirova, K. (Urheber:in), Waentig, A. L. (Urheber:in), Wrzesińska-Lashkova, A. (Urheber:in), Kuc, A. (Urheber:in), Ruck, M. (Urheber:in), Vaynzof, Y. (Urheber:in), Feng, X. (Urheber:in) & Voit, B. (Urheber:in), Cambridge Crystallographic Data Centre, 2024
DOI: https://doi.org/10.5517/ccdc.csd.cc2jxfvr, http://www.ccdc.cam.ac.uk/services/structure_request?id=doi:10.5517/ccdc.csd.cc2jxfvr&sid=DataCite
Forschungsdaten: Datensatz › Messreihen
Chipindustrie hofft auf neue Perspektiven durch Dresdner Ferroelektrik-Transistor
26 Aug. 2022
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien
Bekommt Dresden letztlich wieder eine Speicherchip-Fabrik?
1 Juli 2022
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien
Mikroelektronik-Spitzenforschung: Alles zu ForLabs in Deutschland
11 Nov. 2022
1 eigener Medienbeitrag
Presse/Medien