Weiter zum Inhalt Weiter zur Fußzeile

Professur für Elektronische Bauelemente und Integrierte Schaltungen

Organisation: Professur

Organisationsprofil

Ehemalige:r Inhaber:in der Professur: Prof. Dr.-Ing. habil. Michael Schröter

Weiterführung der Forschung als Seniorprofessor für Elektronische Bauelemente und Integrierte Schaltungen

Ehemalige Einrichtung

Aktiv bis. 31 Juli 2024.

Verknüpfte Inhalte und Forschende (öffentliche Profile)

On the Safe Operating Area of InP HBTs

Müller, M., Fregonese, S., Weimer, C., Liang, G., Jin, X., Froitzheim, M. & Zimmer, T. & 1 weitere, Schröter, M., 30 Okt. 2024, 2024 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS). IEEE, S. 290-293 4 S. 10745684

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

A simple lithography-free approach for the fabrication of top-contact OFETs with sub-micrometer channel length

Haase, K., Talnack, F., Donnhäuser, S., Tahn, A., Löffler, M., Hambsch, M. & Mannsfeld, S. C. B., Aug. 2023, in: Organic electronics. 119, 7 S., 106819.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Characterization and Modeling of Thermal Coupling in Multi-Finger InP DHBTs

Müller, M., Nardmann, T., Froitzheim, M. & Schröter, M., 19 Okt. 2022, 2022 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS). IEEE, S. 208-211 4 S. 10051728

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

Implication of Self-heating effect on device reliability characterization of Multi-finger n-MOSFETs on 22FDSOI

Chohan, T., Zhao, Z., Lehmann, S., Arfaoui, W., Bossu, G., Trommer, J. & Slesazeck, S. & 2 weitere, Mikolajick, T. & Siddabathula, M., 16 Juni 2022, in: IEEE transactions on device and materials reliability. 22, 3, S. 387-395 9 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Benchmarking contact quality in N-type organic thin film transistors through an improved virtual-source emission-diffusion model

Dallaire, N. J., Brixi, S., Claus, M., Blawid, S. & Lessard, B. H., Feb. 2022, in: Applied Physics Reviews. 9, 1, 011418.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung