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On the Safe Operating Area of InP HBTs

Müller, M., Fregonese, S., Weimer, C., Liang, G., Jin, X., Froitzheim, M. & Zimmer, T. & 1 weitere, Schröter, M., 30 Okt. 2024, 2024 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS). IEEE, S. 290-293 4 S. 10745684

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

Characterization and Modeling of Thermal Coupling in Multi-Finger InP DHBTs

Müller, M., Nardmann, T., Froitzheim, M. & Schröter, M., 19 Okt. 2022, 2022 IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS). IEEE, S. 208-211 4 S. 10051728

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

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