Bassani, C. L., van Anders, G., Banin, U., Baranov, D., Chen, Q., Dijkstra, M., Dimitriyev, M. S.,
& 35 othersEfrati, E., Faraudo, J., Gang, O., Gaston, N., Golestanian, R., Guerrero-Garcia, G. I., Gruenwald, M., Haji-Akbari, A., Ibáñez, M., Karg, M., Kraus, T., Lee, B., Van Lehn, R. C., Macfarlane, R. J., Mognetti, B. M., Nikoubashman, A., Osat, S., Prezhdo, O. V., Rotskoff, G. M., Saiz, L., Shi, A. C., Skrabalak, S., Smalyukh, I. I., Tagliazucchi, M., Talapin, D. V., Tkachenko, A. V., Tretiak, S., Vaknin, D., Widmer-Cooper, A., Wong, G. C. L., Ye, X., Zhou, S., Rabani, E., Engel, M. & Travesset, A.,
11 Jun 2024,
In: ACS nano. 18,
23,
p. 14791-14840 50 p.Research output: Contribution to journal › Review article › Contributed › peer-review
