Bassani, C. L., van Anders, G., Banin, U., Baranov, D., Chen, Q., Dijkstra, M. & Dimitriyev, M. S.
& 35 weitere,
Efrati, E., Faraudo, J., Gang, O., Gaston, N., Golestanian, R., Guerrero-Garcia, G. I., Gruenwald, M., Haji-Akbari, A., Ibáñez, M., Karg, M., Kraus, T., Lee, B., Van Lehn, R. C., Macfarlane, R. J., Mognetti, B. M., Nikoubashman, A., Osat, S., Prezhdo, O. V., Rotskoff, G. M., Saiz, L., Shi, A. C., Skrabalak, S., Smalyukh, I. I., Tagliazucchi, M., Talapin, D. V., Tkachenko, A. V., Tretiak, S., Vaknin, D., Widmer-Cooper, A., Wong, G. C. L., Ye, X., Zhou, S., Rabani, E., Engel, M. & Travesset, A.,
11 Juni 2024,
in: ACS nano. 18,
23,
S. 14791-14840 50 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Übersichtsartikel (Review) › Beigetragen › Begutachtung
