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Einfluß von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen - Unter Entwicklung neuer Aufnahme- und Auswertmethoden

Activity: Talk or presentation at external institutions/eventsTalk/PresentationInvited

Persons and affiliations

Date

12 Jun 2003

Description

Eingeladener Vortag
Dauer: 45 min

Seminar

TitleInstitutsseminar der Stiftungsprofessur
für Halbleiterphysik
Conference number
Duration12 June 2003
Degree of recognitionLocal event
LocationTU Dresden
CityDresden
CountryGermany