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Einfluß von Kristallfehlern auf Kossel- und Weitwinkel-Interferenzen - Unter Entwicklung neuer Aufnahme- und Auswertmethoden

Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/VeranstaltungenVortragEingeladen

Datum

12 Juni 2003

Beschreibung

Eingeladener Vortag
Dauer: 45 min

Seminar

TitelInstitutsseminar der Stiftungsprofessur
für Halbleiterphysik
Veranstaltungsnummer
Dauer12 Juni 2003
BekanntheitsgradLokale Veranstaltung
OrtTU Dresden
StadtDresden
LandDeutschland