Professur für Mikrostrukturphysik
Organisation: Professur
Organisationsprofil
Ehemalige:r Inhaber:in der Professur: Prof. Dr. rer. nat. habil. Wolfgang Hauffe
Ehemalige Einrichtung
Aktiv bis. 31 Dez. 2005.
Verknüpfte Inhalte und Forschende (öffentliche Profile)
- Veröffentlichungen
- Zeitschriften
- Aktivitäten
- Auszeichnungen
75 years of Kossel patterns: past and future
Langer, E. & Däbritz, S., 1 Feb. 2010, in: IOP Conference Series: Materials Science and Engineering. 7, 14 S., 012015.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Eingeladen › Begutachtung
First X-ray fluorescence excited Kossel diffraction in SEM
Langer, E., Haschke, M. & Däbritz, S., Juni 2008, in: Microchimica Acta. 161, 3-4, S. 455-458 4 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Ion Beam Preparation Procedures for Three-dimensional SEM Resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel Microdiffraction Analysis of Deformed Metals
Hauffe, W., Simons, G., Kunze, K., Langer, E. & Mitro, R. J., 1 Aug. 2005, in: Microscopy and microanalysis. 11, Suppl.2, S. 840-841 2 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Darstellung von Co2-xZnxMo3O 8-Einkristallen mit definierter Zusammensetzung durch Chemischen Transport
Steiner, U., Reichelt, W., Daminova, S. & Langer, E., 2005, in: Zeitschrift fur Anorganische und Allgemeine Chemie. 631, 2-3, S. 364-368 5 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
3D Microscopy and Microanalysis of Au-Al Ultrasonic Bonds by Specific Ion Beam Processing Steps and Scanning Electron Microscopy
Hauffe, W., Bochenek, A., Lukaszewicz, M., Langer, E. & Mitro, R. J., 2004, in: Microscopy and microanalysis. 10, Suppl. 2, S. 1156-1157 2 S.Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Microelectronics International
ISSNs: 1356-5362
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1356-5362
Emerald Group Publishing, Bingley
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 1,9 SJR 0,188 SNIP 0,354
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Journal of analytical atomic spectrometry : JAAS
ISSNs: 0267-9477
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1364-5544
ChemSoc, Cambridge, Großbritannien/Vereinigtes Königreich
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 6,2 SJR 0,722 SNIP 0,998
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Microchimica acta : an international journal on micro and trace analysis
ISSNs: 0026-3672
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1436-5073
Springer Verlag Wien, Österreich
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 9,8 SJR 0,848 SNIP 0,778
Fachzeitschrift: Zeitschrift
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
ISSNs: 1757-8981
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1757-899X
IOP Publishing
Scopus-Bewertung (2021): CiteScore 1,1 SJR 0,249 SNIP 0,357
Fachzeitschrift: Schriftenreihe
Microscopy and microanalysis
ISSNs: 1431-9276
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1435-8115
Cambridge University Press, USA/Vereinigte Staaten
Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 1,1 SJR 0,387 SNIP 0,475
Fachzeitschrift: Zeitschrift
Combined Kossel and EBSD measurement on ceramic, metallic and superconducting materials
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Dozent:in)17 Juni 2012 → 20 Juni 2012
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
Precision crystallographic studies with the Kossel X-ray diffraction
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Redner:in)28 März 2011 → 30 März 2011
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
75 Years of Kossel patterns - past and future
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Dozent:in)11 Mai 2009
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
Röntgenangeregte Kossel-Mikrobeugung im REM
Langer, E. (Redner:in), Däbritz, S. (Dozent:in), Haschke, M. (Beteiligte Person)27 Mai 2008
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
Beitrag der Weitwinkel- und KOSSEL-Interferenzen zur Realstrukturanalyse
Langer, E. (Redner:in)30 Juni 2006
Aktivität: Vortrag oder Präsentation an externen Einrichtungen/Veranstaltungen › Vortrag › Eingeladen
Posterpreis der 11. Arbeitstagung "Angewandte Oberflächenanalytik"
Däbritz, S. (Preisträger:in), Langer, E. (Preisträger:in) & Hauffe, W. (Preisträger:in), 2000
Auszeichnung: Preis › Publikations-/Konferenzpreis