Tracking speed bumps in organic field-effect transistors via pump-probe Kelvin-probe force microscopy

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)244502-
FachzeitschriftJournal of Applied Physics
Ausgabenummer24
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 84952802287
ORCID /0000-0002-2484-4158/work/142257503

Schlagworte

Schlagwörter

  • pump-probe Kelvin-probe force microscopy, Schottky barrier, organic field-effect transistors