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Journal of Applied Physics

ISSNs: 0021-8979

Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1089-7550

American Institute of Physics

Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 5,4 SJR 0,649 SNIP 0,96

Fachzeitschrift: Zeitschrift

Titel	Journal of Applied Physics Journal of applied physics
Weitere durchsuchbare Titel	J APPL PHYS, J. APPL PHYS., J. APPL. PHYS., Journal of Applied physics, Physics, J. Appl. Phys.
ISSNs	0021-8979
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch)	1089-7550
Verlag	American Institute of Physics
ZDB-ID	3112-4
ZDB-ID	1476463-5

Schlagworte

ASJC-Scopus Sachgebiete

Bibliotheksschlagworte

530 Physik

Verknüpfte Inhalte

Veröffentlichungen

Probing ferroelectric phase transitions in barium titanate single crystals via in situ second harmonic generation microscopy

Kirbus, B., Seddon, S. D., Kiseleva, I., Beyreuther, E., Rüsing, M. & Eng, L. M., 1 Okt. 2024, in: Journal of Applied Physics. 136, 15, 154102.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Toward the reproducible fabrication of conductive ferroelectric domain walls into lithium niobate bulk single crystals

Ratzenberger, J., Kiseleva, I., Koppitz, B., Beyreuther, E., Zahn, M., Gössel, J., Hegarty, P. A., & 3 weitereAmber, Z. H., Rüsing, M. & Eng, L. M., 9 Sept. 2024, in: Journal of Applied Physics. 136, 10, 12 S., 104302.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Toward 3D magnetic force microscopy: Simultaneous torsional cantilever excitation to access a second, orthogonal stray field component

Schmidt, J. F., Eng, L. M. & Seddon, S. D., 1 Sept. 2024, in: Journal of Applied Physics. 136, 11, 113904.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Si_1−x−yGe_ySn_x alloy formation by Sn ion implantation and flash lamp annealing

Steuer, O., Michailow, M., Hübner, R., Pyszniak, K., Turek, M., Kentsch, U., Ganss, F., & 8 weitereKhan, M. M., Rebohle, L., Zhou, S., Knoch, J., Helm, M., Cuniberti, G., Georgiev, Y. M. & Prucnal, S., 14 Aug. 2024, in: Journal of applied physics. 136, 6, 065701.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Structural changes in Ge_1−xSn_x and Si_1−x−yGe_ySn_x thin films on SOI substrates treated by pulse laser annealing

Steuer, O., Schwarz, D., Oehme, M., Bärwolf, F., Cheng, Y., Ganss, F., Hübner, R., & 6 weitereHeller, R., Zhou, S., Helm, M., Cuniberti, G., Georgiev, Y. M. & Prucnal, S., 7 Aug. 2024, in: Journal of applied physics. 136, 5, 055303.

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

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