A Study on the Temperature-Dependent Operation of Fluorite-Structure-Based Ferroelectric HfO2 Memory FeFET: Pyroelectricity and Reliability

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • T. Ali - (Autor:in)
  • K. Kuehnel - (Autor:in)
  • M. Czernohorsky - (Autor:in)
  • C. Mart - (Autor:in)
  • M. Rudolph - (Autor:in)
  • B. Paetzold - (Autor:in)
  • D. Lehninger - (Autor:in)
  • R. Olivo - (Autor:in)
  • M. Lederer - (Autor:in)
  • F. Mueller - (Autor:in)
  • R. Hoffmann - (Autor:in)
  • J. Metzger - (Autor:in)
  • R. Binder - (Autor:in)
  • P. Steinke - (Autor:in)
  • T. Kaempfe - (Autor:in)
  • J. Mueller - (Autor:in)
  • K. Seidel - (Autor:in)
  • L. M. Eng - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2981-2987
Seitenumfang7
FachzeitschriftIEEE transactions on electron devices : ED
Ausgabenummer7
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2020
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 85087329268

Schlagworte