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Journal of Applied Crystallography

ISSNs: 0021-8898

Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch): 1600-5767

International Union of Crystallography

Scopus-Bewertung (2023): CiteScore 10 SJR 1,561 SNIP 3,062

Fachzeitschrift: Zeitschrift

Titel
  • Journal of Applied Crystallography
  • Journal of applied crystallography
Weitere durchsuchbare TitelJ. Appl. Crystallogr., J.APPL.CRYSTALLOGR., J. Appl. Cryst.
ISSNs0021-8898
Weitere durchsuchbare ISSN (elektronisch)1600-5767
VerlagInternational Union of Crystallography
ZDB-ID2020879-0

Verknüpfte Inhalte

X-ray diffraction reveals the amount of strain and homogeneity of extremely bent single nanowires

Davtyan, A., Kriegner, D., Holy, V., AlHassan, A., Lewis, R. B., McDermott, S. & Geelhaar, L. & 8 weitere, Bahrami, D., Anjum, T., Ren, Z., Richter, C., Novikov, D., Mueller, J., Butz, B. & Pietsch, U., Okt. 2020, in: Journal of applied crystallography. 53, S. 1310-1320 11 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

New applications of the X-ray rotation tilt technique

Heckert, M., Enghardt, S. & Bauch, J., Apr. 2018, in: Journal of applied crystallography. 51, S. 406-410 5 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Determining the C60 molecular arrangement in thin films by means of X-ray diffraction

Elschner, C., Levin, A. A., Wilde, L., Grenzer, J., Schroer, C., Leo, K. & Riede, M. K., 2011, in: Journal of Applied Crystallography. 44, Part 5, S. 983-990 8 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Intergrowth of several solid phases from the Y-Ni-B-C system in a large YNi2B2C crystal

Weissbach, T., Leisegang, T., Kreyssig, A., Frontzek, M., Hoffmann, J. U., Souptel, D. & Köhler, A. & 3 weitere, Behr, G., Paufler, P. & Meyer, D. C., 2008, in: Journal of applied crystallography. 41, 4, S. 738-746 9 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Si(511) channel cut for monochromatization and linear polarization of X-rays

Stöcker, H., Reuter, K. K. & Meyer, D. C., 15 Mai 2007, in: Journal of applied crystallography. 40, 3, S. 635-636 2 S.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung