Determining the C60 molecular arrangement in thin films by means of X-ray diffraction

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Beitragende

Chris Elschner - , Professur für Optoelektronik (Autor:in)
Alexandr A. Levin - , Technische Universität Dresden (Autor:in)
Lutz Wilde - , Fraunhofer-Institut für Photonische Mikrosysteme (Autor:in)
Joerg Grenzer - , Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR) (Autor:in)
Christian Schroer - , Professur für Strukturphysik kondensierter Materie (Autor:in)
Karl Leo - , Professur für Optoelektronik (Autor:in)
Moritz Kilian Riede - , Professur für Optoelektronik (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	983-990
Seitenumfang	8
Fachzeitschrift	Journal of Applied Crystallography
Jahrgang	44
Ausgabenummer	Part 5
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 2011
Peer-Review-Status	Ja

Scopus	80052999202