Determining the C60 molecular arrangement in thin films by means of X-ray diffraction

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)983-990
Seitenumfang8
FachzeitschriftJournal of Applied Crystallography
Jahrgang44
AusgabenummerPart 5
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

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