Thema der vorliegenden Diplomarbeit ist die Untersuchung von optisch beeinflusster Nicht-\nKontakt-Dämpfung eines dynamischen Rasterkraftmikroskopes. Dabei wird basierend auf\naktuellen Theorien zur elektrischen Dissipation ein quantitatives Modell entworfen, welches\nim Wesentlichen eine Änderung der Dämpfung aufgrund der optischen Anregung von\nLadungsträgern beschreibt. Es werden entsprechende Messungen auf C60 und SiOx durchgeführt, welche diese Vermutungen bestätigen und gut mit Ergebnissen anderer Gruppen\nübereinstimmen. Es soll auch eine Methode präsentiert werden, mit welcher ein Einfluss\nnicht-elektrischer Dissipationsprozesse minimiert werden kann. Abschließend wird das Potential\nder lichtinduzierten Dissipationsmessung in einem bildgebenden Verfahren gezeigt.