Scattering near-field microscopy in the THz region using a free-electron laser

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Beitragende

  • Hans Georg Von Ribbeck - , Technische Universität Dresden, Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR) (Autor:in)
  • Marc Tobias Wenzel - , Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • Rainer Jacob - , Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR) (Autor:in)
  • Lukas M. Eng - , Professur für Experimentalphysik/Photophysik (Autor:in)

Abstract

We present scattering-type scanning near- field optical micro-spectroscopy (s-SNOM) investigations successfully operated in the THz range with a wavelength independent spatial resolution of < 150 nm. As a variable and monochromatic radiation source we use the free-electron laser (FELBE) located at the Forschungszentrum Dresden-Rossendorf (FZD) tunable over the wavelength range from 4-250 μm.

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelIRMMW-THz 2010 - 35th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves, Conference Guide
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
Peer-Review-StatusJa

Publikationsreihe

ReiheInternational Conference on Infrared and Millimeter Waves
ISSN2162-2027

Konferenz

Titel35th International Conference on Infrared, Millimeter, and Terahertz Waves 2010
KurztitelIRMMW-THz 2010
Dauer5 - 10 September 2010
Webseite
StadtRome
LandItalien

Externe IDs

ORCID /0000-0002-2484-4158/work/175744052

Schlagworte

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