Polarization mode preservation in elliptical index tailored optical fibers for apertureless scanning near-field optical microscopy

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

  • Christoph Zeh - , Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren, Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • Ron Spittel - , Leibniz-Institut für Photonische Technologien (Autor:in)
  • Sonja Unger - , Leibniz-Institut für Photonische Technologien (Autor:in)
  • Jörg Opitz - , Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren (Autor:in)
  • Bernd Köhler - , Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren (Autor:in)
  • Johannes Kirchhof - , Leibniz-Institut für Photonische Technologien (Autor:in)
  • Hartmut Bartelt - , Leibniz-Institut für Photonische Technologien (Autor:in)
  • Lukas M. Eng - , Professur für Experimentalphysik/Photophysik (Autor:in)

Abstract

We report on the development of elliptical, index tailored optical fibers for higher-order mode preservation for fiber-based, apertureless, internally illuminated scanning near-field optical microscopy (ai-SNOM). The fiber structure is simulated by the finite element method, showing large spreads of the effective indices for neighboring first higher-order modes. We demonstrate experimentally that due to this spread, the first higher-order modes do not couple, hence, the polarization is maintained, when the fiber is bent down to 1 cm radius. Further, we discuss the implications for ai-SNOM applications.

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer103108
FachzeitschriftApplied physics letters
Jahrgang97
Ausgabenummer10
PublikationsstatusVeröffentlicht - 6 Sept. 2010
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

ORCID /0000-0002-2484-4158/work/158768103

Schlagworte

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