Managing Variability within Wafertest Production by Combining Lean and Six Sigma

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Beitragende

Dietrich Eberts - , Infineon Technologies Dresden GmbH & Co. KG (Autor:in)
Ralph Rottnick - , Infineon Technologies Dresden GmbH & Co. KG (Autor:in)
Germar Schneider - , Infineon Technologies Dresden GmbH & Co. KG (Autor:in)
Rainer Lasch - , Professur für Betriebswirtschaftslehre, insbesondere Logistik (Autor:in)
Sophia Keil - , Professur für Betriebswirtschaftslehre, insbesondere Logistik (Autor:in)
Oliver Buhmann - , Hochschule für Technik und Wirtschaft (HTW) Dresden (Autor:in)

Titel	23rd Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference
Kurztitel	ASMC 2012
Veranstaltungsnummer	23
Dauer	15 - 17 Mai 2012
Stadt	Saratoga Springs
Land	USA/Vereinigte Staaten

ORCID	/0000-0001-6942-3763/work/142252948
Scopus	84863963041