Managing Variability within Wafertest Production by Combining Lean and Six Sigma

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Beitragende

Germar Schneider - (Autor:in)
Dietrich Eberts - (Autor:in)
Rainer Lasch - , Professur für Betriebswirtschaftslehre, insbesondere Logistik (Autor:in)
Sophia Keil - , Professur für Betriebswirtschaftslehre, insbesondere Logistik (Autor:in)
Oliver Buhmann - (Autor:in)
Ralph Rottnick - (Autor:in)

Titel	23rd Annual IEEE/SEMI® Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)
Veranstaltungsnummer
Dauer	15 Mai 2012
Ort
Stadt

ORCID	/0000-0001-6942-3763/work/142252948