Investigations on residual strains and the cathodoluminescence and electron beam induced current signal of grain boundaries in silicon

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer163511
FachzeitschriftJournal of Applied Physics
Jahrgang115
Ausgabenummer16
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2014
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 84900002943
researchoutputwizard legacy.publication#57541

Schlagworte

Schlagwörter

  • EBIC, Si, grain boundaries