Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime

Publikation: Hochschulschrift/Abschlussarbeit › Dissertation

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
QualifizierungsstufeDr. rer. nat.
Gradverleihende Hochschule
Betreuer:in / Berater:in
  • Eng, Lukas, Gutachter:in
  • Kehr, Susanne, Hauptbetreuer:in
Datum der Verteidigung (Datum der Urkunde)16 Juli 2019
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2019
No renderer: customAssociatesEventsRenderPortal,dk.atira.pure.api.shared.model.researchoutput.Thesis

Schlagworte

Forschungsprofillinien der TU Dresden

Schlagwörter

  • SNOM, THz regime, graphene, FET