Ferroelectric hafnium oxide: A CMOS-compatible and highly scalable approach to future ferroelectric memories
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Beitragende
Details
Originalsprache | Englisch |
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Titel | IEDM |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2013 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 84894297755 |
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