Exploiting transistor-level reconfiguration to optimize combinational circuits

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

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OriginalspracheEnglisch
TitelProceedings of the 2017 Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Peer-Review-StatusJa

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Scopus 85014200161

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