Electrical stress on intrinsically conductive polymer layer

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

Beitragende

  • Detlef Bonfert - , Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien (Autor:in)
  • Dieter Hemmetzberger - , Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien (Autor:in)
  • Indranil Bose - , Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien (Autor:in)
  • Gerhard Klink - , Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien (Autor:in)
  • Karlheinz Bock - , Professur für Aufbau- und Verbindungstechnik der Elektronik, Fraunhofer-Institut für Elektronische Mikrosysteme und Festkörper-Technologien, Technische Universität München (Autor:in)
  • Paul Svasta - , University Politehnica of Bucharest (Autor:in)
  • Ciprian Ionescu - , University Politehnica of Bucharest (Autor:in)

Abstract

There is a necessity to include sensors (resistors) in the design of organic electronic systems in order to extend the range of possible applications. It is essential to identify potential resistive materials, the processes and methods to structure them and to analyze their resistive properties on flexible substrates. One material widely used in organic electronics is the intrinsically conductive polymer (ICP) poly (3, 4-ethylendioxythiophene) doped with polystyrene sulfonate acid (PEDOT:PSS). In this paper we focus on the DC- and pulsed stress behavior of this conductive polymer on flexible substrates and the resulting changes of his resistive properties.

Details

OriginalspracheDeutsch
Titel2012 35th International Spring Seminar on Electronics Technology
Herausgeber (Verlag)IEEE
Seiten270-275
Seitenumfang6
ISBN (Print)978-1-4673-2239-3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 13 Mai 2012
Peer-Review-StatusJa

Konferenz

Titel2012 35th International Spring Seminar on Electronics Technology
UntertitelPower Electronics
KurztitelISSE 2012
Veranstaltungsnummer35
Dauer9 - 13 Mai 2012
OrtCongress Center
StadtBad Aussee
LandÖsterreich

Externe IDs

Scopus 84867085939
ORCID /0000-0002-0757-3325/work/139064844

Schlagworte

Schlagwörter

  • Positron emission tomography, Resistance, Transmission line measurements, Current measurement, Voltage measurement, Semiconductor device measurement, Electrical resistance measurement