CLRFrame: An Analysis Framework for Designing Cross-Layer Reliability in Embedded Systems.
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Beitragende
Details
Originalsprache | Undefiniert |
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Titel | VLSI Design |
Seiten | 307-312 |
Seitenumfang | 6 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 85046741499 |
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