Charge storage in silicon-implanted silicondioxide layers examined by scanning probe microscopy
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 159-165 |
| Seitenumfang | 7 |
| Fachzeitschrift | Thin Solid Films |
| Jahrgang | 513 |
| Ausgabenummer | 1-2 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - Aug. 2006 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 33745269772 |
|---|