A 28nm HKMG super low power embedded NVM technology based on ferroelectric FETs

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/GutachtenBeitrag in KonferenzbandBeigetragenBegutachtung

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OriginalspracheUndefiniert
TitelTechnical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2017
Peer-Review-StatusJa

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