A 28nm HKMG super low power embedded NVM technology based on ferroelectric FETs
Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
Originalsprache | Undefiniert |
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Titel | Technical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2017 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 85011716662 |
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