XPS investigation of Mn valence in lanthanum manganite thin films under variation of oxygen content

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Aufsatznummer155425
FachzeitschriftPhysical Review B
Jahrgang73
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2006
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 33646357935
ORCID /0000-0003-1899-603X/work/150329054
ORCID /0000-0002-2484-4158/work/150330950

Schlagworte

Schlagwörter

  • PULSED-LASER DEPOSITION, RAY PHOTOELECTRON-SPECTROSCOPY, DOPED SYSTEM LA1-XCEXMNO3, ELECTRONIC-STRUCTURE, COLOSSAL MAGNETORESISTANCE, MAGNETIC-PROPERTIES, LA0.7CE0.3MNO3 FILMS, TRANSPORT-PROPERTIES, CATALYTIC PERFORMANCE, SURFACE-PROPERTIES