Using the Right Two-Ray Model? A Measurement based Evaluation of PHY Models in VANETs

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Beitragende

Details

OriginalspracheUndefiniert
Titel17th ACM International Conference on Mobile Computing and Networking (MobiCom 2011), Poster Session
ErscheinungsortLas Vegas, NV
Herausgeber (Verlag)ACM Press
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Sept. 2011
Peer-Review-StatusJa

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