The Scale4Edge RISC-V Ecosystem

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • Wolfgang Ecker - , Infineon Technologies AG (Autor:in)
  • Peer Adelt - , Universität Paderborn (Autor:in)
  • Wolfgang Mueller - , Universität Paderborn (Autor:in)
  • Reinhold Heckmann - , AbsInt Angewandte Informatik GmbH (Autor:in)
  • Milos Krstic - , Universität Potsdam (Autor:in)
  • Vladimir Herdt - , Universität Bremen (Autor:in)
  • Rolf Drechsler - , Universität Bremen (Autor:in)
  • Gerhard Angst - , Concept Engineering GmbH (Autor:in)
  • Ralf Wimmer - , Concept Engineering GmbH (Autor:in)
  • Andreas Mauderer - , Robert Bosch GmbH (Autor:in)
  • Rafael Stahl - , Technische Universität München (Autor:in)
  • Karsten Emrich - , Technische Universität München (Autor:in)
  • Daniel Mueller-Gritschneder - , Technische Universität München (Autor:in)
  • Bernd Becker - , Albert-Ludwigs-Universität Freiburg (Autor:in)
  • Philipp Scholl - , Albert-Ludwigs-Universität Freiburg (Autor:in)
  • Eyck Jentzsch - , MINRES Technologies GmbH (Autor:in)
  • Jan Schlamelcher - , OFFIS - Institute for Information Technology (Autor:in)
  • Kim Gruttner - , OFFIS - Institute for Information Technology (Autor:in)
  • Paul Palomero Bernardo - , Eberhard Karls Universität Tübingen (Autor:in)
  • Oliver Bringmann - , Eberhard Karls Universität Tübingen (Autor:in)
  • Mihaela Damian - , Technische Universität Darmstadt (Autor:in)
  • Julian Oppermann - , Technische Universität Darmstadt (Autor:in)
  • Andreas Koch - , Technische Universität Darmstadt (Autor:in)
  • Jorg Bormann - , Siemens AG (Autor:in)
  • Johannes Partzsch - , Professur für Hochparallele VLSI-Systeme und Neuromikroelektronik (Autor:in)
  • Christian Mayr - , Professur für Hochparallele VLSI-Systeme und Neuromikroelektronik (Autor:in)
  • Wolfgang Kunz - , Rheinland-Pfälzische Technische Universität Kaiserslautern-Landau (Autor:in)

Abstract

This paper introduces the project Scale4Edge. The project is focused on enabling an effective RISC-V ecosystem for optimization of edge applications. We describe the basic components of this ecosystem and introduce the envisioned demonstrators, which will be used in their evaluation.

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelProceedings of the 2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2022
Redakteure/-innenCristiana Bolchini, Ingrid Verbauwhede, Ioana Vatajelu
Herausgeber (Verlag)Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten808-813
Seitenumfang6
ISBN (elektronisch)978-3-9819263-6-1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2022
Peer-Review-StatusJa

Publikationsreihe

ReiheDesign, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE)
ISSN1530-1591

Konferenz

Titel2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
KurztitelDATE 2022
Veranstaltungsnummer25
Dauer14 - 23 März 2022
Webseite
OrtOnline
StadtAntwerp
LandBelgien

Externe IDs

ORCID /0000-0002-6286-5064/work/160048711

Schlagworte

ASJC Scopus Sachgebiete

Schlagwörter

  • ecosystem, edge applications, RISC-V