Si amorphization by focused ion beam milling: Point defect model with dynamic BCA simulation and experimental validation
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
| Originalsprache | Englisch |
|---|---|
| Seiten (von - bis) | 52-56 |
| Seitenumfang | 5 |
| Fachzeitschrift | Ultramicroscopy |
| Jahrgang | 184 |
| Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
| Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
| Scopus | 85032337802 |
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