SDVSRM - a new SSRM based technique featuring dynamically adjusted, scanner synchronized sample voltages for measurement of actively operated devices

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)24-32
FachzeitschriftUltramicroscopy
Jahrgang193
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
Peer-Review-StatusJa

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