SDVSRM - a new SSRM based technique featuring dynamically adjusted, scanner synchronized sample voltages for measurement of actively operated devices
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung
Beitragende
Details
Originalsprache | Englisch |
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Seiten (von - bis) | 24-32 |
Fachzeitschrift | Ultramicroscopy |
Jahrgang | 193 |
Publikationsstatus | Veröffentlicht - 2018 |
Peer-Review-Status | Ja |
Externe IDs
Scopus | 85048826816 |
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