Reliability of SrRuO3/SrTiO3/SrRuO3 Stacks for DRAM Applications

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • U. Bottger - (Autor:in)
  • S. Knebel - , NaMLab - Nanoelectronic materials laboratory gGmbH (Autor:in)
  • S. Kupke - (Autor:in)
  • T. Mikolajick - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)
  • S. Schmelzer - (Autor:in)
  • U. Schroeder - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)1699 - 1701
FachzeitschriftIEEE electron device letters
Jahrgang33
Ausgabenummer12
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2012
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 84870395301

Schlagworte

Bibliotheksschlagworte