Reconfigurable NAND/NOR logic gates in 28 nm HKMG and 22 nm FD-SOI FeFET technology

Publikation: Beitrag in Buch/Konferenzbericht/Sammelband/Gutachten › Beitrag in Konferenzband › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelTechnical Digest - International Electron Devices Meeting, IEDM
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

Scopus 85045212617

Schlagworte