Quantitative analysis of backscattered electron (BSE) contrast using low voltage scanning electron microscopy (LVSEM) and its application to Al0. 22Ga0. 78N/GaN layers.

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftForschungsartikelBeigetragenBegutachtung

Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)47-52
Seitenumfang6
FachzeitschriftUltramicroscopy
Jahrgang195
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2018
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

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Schlagworte

Forschungsprofillinien der TU Dresden