Quantifizierung Elektronischer Defektzustände in komplexen Oxiden mittels der Oberflächenphotospannungsspektroskopie

Publikation: Hochschulschrift/AbschlussarbeitDiplomarbeit

Beitragende

  • Jana Becherer - (Autor:in)

Abstract

In dieser Diplomarbeit wurde eine grundlagenorientierte Untersuchung der Oberflächenphotospannung (engl. surface photovoltage: SPV) an verschiedenen komplexen Oxiden (Strontiumtitanat, Bariumtitanat, Bleizirkonattitanatfilme, Lanthanmanganatfilme) durchgeführt. Aus Messungen der SPV in Abhängigkeit von der anregenden Lichtwellenlänge, deren Lichtintensität, der Temperatur und der Zeit mithilfe einer Kelvin-Sonde an Luft konnten die Eigenschaftenrnelektronischer Defektzustände in oben genannten Verbindungenquantitativ ermittelt werden.<br>Mithilfe der Oberflächenphotospannungsspektroskopie (SPS) wurden die energetischen Positionen der Defektzustände in der Bandlücke bestimmt. Es wurden verschiedene Oberflächen- und Bulkzustände ermittelt. Die Untersuchungrnder reinen Substrate bildete die Grundlage für die Interpretation der SPV-Spektren an den Film-Substrat-Heterostrukturen, und erlaubte die Identifikation von Grenzflächenzuständen. Aus Messungen der SPV als Funktion der Zeit konnten die Übergangswahrscheinlichkeitenrnwie der optische und der thermische Wirkungsquerschnitt bestimmt werden. Als Modell wurde ein klassisches Bandschema mit Ladungsträgereinfang in den Oberflächenzuständen verwendet. Es ergeben sich nichtexponentielle Transienten, die aus einer langsamen und einer schnellen Komponente bestehen, wobei die erst genannte eine sehr lange Relaxationszeit im Bereich von Stunden aufweist.

Details

OriginalspracheDeutsch
QualifizierungsstufeDipl.-Phys.
Gradverleihende Hochschule
Betreuer:in / Berater:in
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
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Schlagworte

Schlagwörter

  • SrTiO3, surface photovoltage, Kelvin probe, oxide electronics