Probing Magnetic Properties at the Nanoscale: A Novel Setup for In-situ Hall Measurements in a TEM

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Beitragende

Darius Pohl - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Yejin Lee - , Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
Dominik Kriegner - , Professur für Festkörperphysik (Autor:in)
Sebastian Beckert - , Professur für Physik der Quantenmaterialien, Professur für Festkörperphysik (Autor:in)
Sebastian Schneider - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Andy Thomas - , Professur für Festkörperphysik, Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung Dresden (Autor:in)
Bernd Rellinghaus - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	1011
Seitenumfang	1
Fachzeitschrift	Microscopy and microanalysis
Jahrgang	30
Ausgabenummer	Suppl 1
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 24 Juli 2024
Peer-Review-Status	Ja

Titel	82nd Annual Meeting Microscopy Society of America & the 58th Annual Meeting Microanalysis Society
Kurztitel	M&M 2024
Beschreibung	Microscopy & Microanalysis 2024
Dauer	28 Juli - 1 August 2024
Webseite	https://microscopy.org/past-m-m-meetings
Ort	Huntington Convention Center
Stadt	Cleveland
Land	USA/Vereinigte Staaten

ORCID	/0000-0002-4859-4325/work/226150312