Optical characterization of strain-induced structural modification in SiGe-based heterostructures

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)2363-2366
Seitenumfang4
FachzeitschriftJournal of Applied Physics
Ausgabenummer4
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1999
Peer-Review-StatusNein

Externe IDs

Scopus 0004496483