Noise investigations of 90 nm VLSI CMOS technologies for analog integratedcircuits at millimeter wave frequencies

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelSPIE Conference on Noise and Fluctuations
Seiten131-138
Seitenumfang8
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez. 2004
Peer-Review-StatusJa

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