Nanoinspection of dielectric and polarization properties at inner and outer interfaces in functional ferroelectric PZT thin films

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Beitragende

Details

OriginalspracheEnglisch
TitelScanning Probe Microscopy: Characterization, Nanofabrication and Device Application of Functional Materials
Redakteure/-innenP. Vilarinho
Seiten275-287
Seitenumfang13
AuflageNeuerscheinung
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
Peer-Review-StatusJa

Externe IDs

ORCID /0000-0002-2484-4158/work/176339433

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