Multi-resolution characterisation of grain-based measurements from x-ray tomography

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Beitragende

  • E. Ando - (Autor:in)
  • A. Tengattini - (Autor:in)
  • M. Wiebicke - (Autor:in)
  • G. Viggiani - (Autor:in)
  • S. Salager - (Autor:in)
  • J. Desrues - (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2015
Peer-Review-StatusJa

Konferenz

Titel2nd International Conference on Tomography of Materials and Structures
Veranstaltungsnummer
Dauer1 Juli 2015
BekanntheitsgradInternationale Veranstaltung
Ort
Stadt

Schlagworte

Schlagwörter

  • x-ray tomography, inter - particle contacts, subpixel resolution