MODULATED ELLIPSOMETRY FOR CHARACTERIZATION OF MULTIPLE-QUANTUM WELLS AND SUPERLATTICES

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen

Beitragende

Details

OriginalspracheDeutsch
Seiten (von - bis)112-116
Seitenumfang5
FachzeitschriftThin Solid Films
Ausgabenummer1-2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1993
Peer-Review-StatusNein

Externe IDs

Scopus 43949165679