Lateral damage in graphene carved by high energy focused gallium ion beams

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

Zhongquan Liao - , Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik, Dresden Center for Nanoanalysis (DCN) (Autor:in)
Tao Zhang - , Professur für Makromolekulare Chemie (MC) (Autor:in)
Martin Gall - , Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (Autor:in)
Arezoo Dianat - , Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik (Autor:in)
Ruediger Rosenkranz - , Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (Autor:in)
Rainer Jordan - , Professur für Makromolekulare Chemie (MC) (Autor:in)
Gianaurelio Cuniberti - , Professur für Materialwissenschaft und Nanotechnik, Center for Advancing Electronics Dresden (cfaed) (Autor:in)
Ehrenfried Zschech - , Dresden Center for Nanoanalysis (DCN), Fraunhofer-Institut für Keramische Technologien und Systeme (Autor:in)

Graphene, Ion beams, Focused ion beam technology, Ion radiation effects, raman spectra, Raman mapping