Kossel X-ray microdiffraction and EBSD as complementary methods in the SEM

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

  • E. Langer - , Professur für Mikrosystemtechnik, Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • S. Däbritz - , Technische Universität Dresden (Autor:in)
  • W. Hauffe - , Technische Universität Dresden (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)114-115
Seitenumfang2
FachzeitschriftMicroscopy and microanalysis
Jahrgang9
AusgabenummerSUPPL. 3
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2003
Peer-Review-StatusJa

Schlagworte

ASJC Scopus Sachgebiete