Ion Beam Preparation Procedures for Three-dimensional SEM Resolved Kikuchi (EBSD) and Kossel Microdiffraction Analysis of Deformed Metals

Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Forschungsartikel › Beigetragen › Begutachtung

Beitragende

W. Hauffe - (Autor:in)
G. Simons - (Autor:in)
K. Kunze - (Autor:in)
Enrico Langer - , Professur für Mikrosystemtechnik, Professur für Mikrostrukturphysik (Autor:in)
R.J. Mitro - (Autor:in)

Originalsprache	Englisch
Seiten (von - bis)	840-841
Seitenumfang	2
Fachzeitschrift	Microscopy and microanalysis
Jahrgang	11
Ausgabenummer	Suppl.2
Publikationsstatus	Veröffentlicht - 1 Aug. 2005
Peer-Review-Status	Ja