Investigation of the reliability degradation of scaled SONOS memory transistors

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Beitragende

  • J. Ocker - (Autor:in)
  • S. Slesazeck - (Autor:in)
  • R. Hoffmann - (Autor:in)
  • V. Beyer - (Autor:in)
  • A. Skouris - (Autor:in)
  • R. Srowik - (Autor:in)
  • S. Buschbeck - (Autor:in)
  • S. Gunther - (Autor:in)
  • T. Mikolajick - , Professur für Nanoelektronik (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Titel2015 IEEE International Integrated Reliability Workshop Final Report (IIRW)
Herausgeber (Verlag)IEEE Xplore
Seitenumfang4
Band2015
ISBN (elektronisch)978-1-4673-7396-8, 978-1-4673-7394-4
ISBN (Print)978-1-4673-7395-1
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2016
Peer-Review-StatusJa

Publikationsreihe

ReiheIEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)
ISSN1930-8841

Externe IDs

Scopus 84964617155

Schlagworte