INFLUENCE OF SURFACE-ROUGHNESS ON THE ELECTRICAL-PROPERTIES OF SI-SIO2 INTERFACES AND ON 2ND-HARMONIC GENERATION AT THESE INTERFACES

Publikation: Sonstige Veröffentlichung › Sonstiges › Beigetragen

Beitragende

  • CH BJORKMAN - (Autor:in)
  • T YASUDA - (Autor:in)
  • CE SHEARON - (Autor:in)
  • Y MA - (Autor:in)
  • G LUCOVSKY - (Autor:in)
  • EMMERICHS, - (Autor:in)
  • U, - (Autor:in)
  • C MEYER - (Autor:in)
  • H Kurz - (Autor:in)
  • Karl Leo - , Professur für Optoelektronik (Autor:in)

Details

OriginalspracheEnglisch
Seitenumfang7
Band11
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1993
Peer-Review-StatusNein
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